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首頁(yè) > 新聞中心 > GB T12085光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
| GB T12085光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介 |
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| 時(shí)間：2013/11/30 8:20:04 |
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GB/T12085光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)共分為以下16個(gè)部分：
1、術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍；
2、低溫、高溫、濕熱；
3、機(jī)械作用力；
4、鹽霧；
5、低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)；
6、砂塵；
7、滴水、淋雨；
8、高壓、低壓、浸沒；
9、太陽(yáng)輻射；
10、振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)；
11、長(zhǎng)霉；
12、污染；
13、沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)；
14、露、霜、冰；
15、寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)；
16、彈跳或恒加速與高溫、低溫綜合試驗(yàn)。
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件，標(biāo)準(zhǔn)是研究試驗(yàn)的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到溫度和濕度影響的變化程序。
試驗(yàn)暴露在內(nèi)部有調(diào)節(jié)氣壓或裝備有空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱有效工作空間中各處溫度應(yīng)均勻，并應(yīng)和控制點(diǎn)的數(shù)值一致，試驗(yàn)箱壁上和頂上的凝結(jié)水不得滴落在試樣上，散熱試樣試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)在相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定溫度傳感器和定位安裝位置和數(shù)量。 |
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